細谷, 資明 ホソヤ, スケアキ

ID:DA00739686

別名

Hosoya, Sukeaki

Hosoya, S.

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  • X-ray instrumentation for the photon factory : dynamic analyses of micro structures in matter

    edited by S. Hosoya, Y. Iitaka, and H. Hashizume

    KTK Scientific Publishers , D. Reidel Pub. Co. , Sold and distributed in the U.S.A. and Canada by Kluwer Academic Publishers c1986

    所蔵館13館

  • EXAFS

    川村隆明, 細谷資明責任編集

    日本物理学会 1981.9 物理学論文選集 215

    所蔵館15館

  • 結晶学概論

    W.L.ブラッグ著 ; 永宮健夫, 細谷資明訳

    岩波書店 1978.3 改版

    所蔵館106館

  • 原子物理学

    E.シュポルスキー著 ; 玉木英彦 [ほか] 訳

    東京図書 1966.1 増訂新版 物理学選書

    1

    所蔵館60館

  • 原子物理学

    E. シュポルスキー著 ; 玉木英彦 [ほか] 訳

    東京図書 1966.1 増訂新版

    1

    所蔵館188館

  • 結晶解析

    細谷資明 [ほか] 執筆

    朝倉書店 1966.11 物理測定技術 / 飯田修一 [ほか] 編 2

    所蔵館239館

  • 原子物理学

    E. シュポルスキー著 ; 玉木英彦 [ほか] 訳

    東京図書 1956.12-1958.1 物理学選書

    1 , 2 , 3

    所蔵館215館

  • 物理学 : 大学演習

    金原寿郎編

    裳華房 1953.11

    所蔵館82館

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