検索結果25件中 1-20 を表示

  • 1 / 2
  • 尾藤 洋一 ID: 9000001541359

    計量研究所量子部光学計測研究室 (1999年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • GaAsの電界吸収効果および電気光学効果を用いた高コントラストな空間光変調素子 (1999)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000002961922

    産総研計測標準 (2014年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 23件

    • 長さ標準とトレーサビリティー : ものさしは時間につながっている (2003)
    • 低熱膨張ガラス製長尺ブロックゲージの光波干渉計による校正不確かさの評価 (2005)
    • 光コムを用いた時間・周波数標準に基づく精密長さ計測 (2007)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000007533476

    CiNii収録論文: 1件

    • 技術資料 干渉測長における光波面と位相測定技術に関する調査研究 (1999)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000010048976

    CiNii収録論文: 1件

    • 液晶空間光変調素子の干渉計測への応用--電気アドレス型液晶空間光変調素子を利用した位相シフト干渉計 (特集:新たな液晶応用技術--ディスプレイだけではない) (2005)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000016656921

    (独)産業技術総合研究所 計測標準研究部門 (2009年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 液晶空間光変調素子の干渉計測応用 : 電気アドレス型液晶空間光変調素子を利用した位相シフト干渉計 (2009)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000019981617

    産業技術総合研究所 (2009年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 組織間のパワーを融合した総合力 (2009)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000020433159

    独立行政法人産業技術総合研究所 (2010年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 波長走査干渉法と位相シフト法を用いた半導体マスクガラスの光学的厚さ分布の計測 (2010)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000020492641

    産業技術総合研究所 (2010年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 日本実験棟「きぼう」 (2010)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000022206099

    産業技術総合研究所 (2010年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 重力波検出技術が開く世界 (2010)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000022209331

    産業技術総合研究所 (2010年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 既知のかたよりを補正しない場合の不確かさ評価 (第2報) (2010)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000241677044

    CiNii収録論文: 1件

    • 高精度平面形状計測 (特集 光三次元計測を利用する!) (2013)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000251867953

    CiNii収録論文: 1件

    • 光周波数コムを利用した長さ計測技術 : 光周波数コム発生器を用いた高精度微小変位計測 (特集 超短パルス光が拓く新しい光物理) (2014)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000258639765

    産業技術総合研究所 計測標準研究部門 (2004年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 非リンギング方式によるゲージブロックの次世代校正方法(第2報):ゲージブロックの線膨張係数測定 (2004)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000258647654

    産業技術総合研究所 計測標準研究部門 (2006年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 基準オプチカルフラットを用いた平面度測定機の校正法 (2006)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000258649611

    産業技術総合研究所 光技術部門 (2008年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 波長走査と位相シフト法を用いた半導体マスクガラスの光学的厚さ計測 (2008)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000258656139

    産総研 計測標準研究部門 長さ計測科 (2012年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 局部傾斜角測定に基づく絶対表面形状測定装置の開発 (2012)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000270282190

    CiNii収録論文: 1件

    • 超高精度平面度測定 (2014)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000283810890

    産業技術総合研究所 (2007年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 波長走査干渉法による半導体マスクガラスの光学的厚さ計測 (2007)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000283826888

    産総研 計測標準研究部門 長さ標準研究室 (2013年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 平面度測定の事前情報を使用したベイズ推論による平面度の不確かさ推定 (2013)
  • 尾藤 洋一 ID: 9000283826900

    産総研 計測標準研究部門 長さ計測科 (2013年 CiNii収録論文より)

    CiNii収録論文: 1件

    • 局部傾斜角測定に基づく絶対表面形状測定装置の開発(第2報):重力による平面鏡のたわみ評価 (2013)
  • 1 / 2
ページトップへ