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A Test Generation Method for Synchronously Designed QDI Circuits
[in Japanese]
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UCHIDA Koki
,
MURATA Eri
,
OHTAKE Satoshi
,
NAKASHIMA Yasuhiko
Quasi-Delay-Insensitive (QDI)設計は非同期式回路の現実的な実現手法の一つとして注目されている.本稿で対象にする同期式回路から変換されたQDI回路は,ラッチ,組合せ論理,および完了検出器から構成されている.これらの構成要素には状態を持つ回路素子であるC素子が用いられており,さらに回路中にハンドシェイクのためのフィードバックが存在するため,テスト生成が困難である.本稿ではテ …
IEICE technical report. Dependable computing 111(435), 43-48, 2012-02-06
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