Search Results:　 1-20 of 53

  • 1

    Direct estimation of surface electrical properties from micro- or nano-order areas  [in Japanese]

    須田 聖一 , 川原 浩一 , 木下 久美子

    The Journal of fuel cell technology 10(2), 104-107, 2010-00-00

  • 2

    FPD inspection device function tester "FTS series" and prober  [in Japanese]

    前田 高伸

    ディスプレイ 14(12), 72-75, 2008-12-00

  • 3

    SoC macro-block diagnosis using extracted layout information  [in Japanese]

    MIURA Katsuyoshi , NAKAMAE Koji

    レイアウト抽出ネットリストを用いたSoCマクロブロックの故障診断手法を提案している。設計時のネットリストが入手できないハードIPコアの診断を、レイアウトから抽出したネットリストを用いて行っている。LSIテスタの出力パターン(フェイルログ)による診断とプローバによる診断を組み合わせて、故障候補を絞り込む。故障出力の上流論理コーン領域についてのみネットリスト抽出を行うことで、対象回路サイズを小さくして …

    IEICE technical report. Component parts and materials 106(467), 103-108, 2007-01-11

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (4)

  • 4

    SoC macro-block diagnosis using extracted layout information  [in Japanese]

    MIURA Katsuyoshi , NAKAMAE Koji

    レイアウト抽出ネットリストを用いたSoCマクロブロックの故障診断手法を提案している。設計時のネットリストが入手できないハードIPコアの診断を、レイアウトから抽出したネットリストを用いて行っている。LSIテスタの出力パターン(フェイルログ)による診断とプローバによる診断を組み合わせて、故障候補を絞り込む。故障出力の上流論理コーン領域についてのみネットリスト抽出を行うことで、対象回路サイズを小さくして …

    Technical report of IEICE. ICD 106(468), 103-108, 2007-01-11

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (4)

  • 5

    <no title>

    PROBER DA

    J Neurosci 26, 13400-13410, 2006

    CrossRef Cited by (1)

  • 6

    LSI fault diagnosis by using functional test result and netlist extracted from CAD layout data  [in Japanese]

    MIURA Katsuyoshi , NAKAMAE Koji , FUJIOKA Hiromu

    … LSIのCADレイアウトから抽出したネットリストを用いて, 外部観測型テスト装置であるLSIテスタにより故障診断を行い, これにより得られた故障候補を, EBテスタ, LVP(laser voltage prober), 時間分解エミッション顕微鏡などの内部波形が観測可能な内部観測型テスト装置(プローバ)での故障絞込みに活用する手法を提案している.設計時のネットリストや, 診断用テストベクトルの生成を必要としないので, 半導体製造メーカーにお …

    Technical report of IEICE. ICD 104(629), 47-51, 2005-01-21

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (13)

  • 7

    LSI fault diagnosis by using functional test result and netlist extracted from CAD layout data  [in Japanese]

    MIURA Katsuyoshi , NAKAMAE Koji , FUJIOKA Hiromu

    … LSIのCADレイアウトから抽出したネットリストを用いて, 外部観測型テスト装置であるLSIテスタにより故障診断を行い, これにより得られた故障候補を, EBテスタ, LVP(laser voltage prober), 時間分解エミッション顕微鏡などの内部波形が観測可能な内部観測型テスト装置(プローバ)での故障絞込みに活用する手法を提案している. …

    IEICE technical report. Component parts and materials 104(627), 47-51, 2005-01-21

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (13)

  • 8

    Sixth disease and the ubiquity of human herpesviruses

    PROBER C

    N Engl J Med 352, 753-755, 2005

    CrossRef Cited by (1)

  • 9

    Electronic Transport in Multiwalled Carbon Nanotubes Contacted with Patterned Electrodes

    Hobara Rei , Yoshimoto Shinya , Ikuno Takashi , Katayama Mitsuhiro , Yamauchi Norihiro , Wongwiriyapan Winadda , Honda Shin-ichi , Matsuda Iwao , Hasegawa Shuji , Oura Kenjiro

    … The electrical conductance of $0.8\sim5$-μm-long multiwalled carbon nanotubes (MWCNT) was measured at room temperature in a multiprobe scanning tunneling microscope (STM)-scanning electron microscope (SEM) system and a conventional prober system, by bringing the MWCNTs into contact with patterned metal electrodes. …

    Jpn J Appl Phys 43(8B), L1081-L1084, 2004-08-15

    The Japan Society of Applied Physics References (25) Cited by (1)

  • 10

    Development of Failure Analysis Method Using Nano-prober and THIS  [in Japanese]

    YANO Fumiko , YANAGITA Hiroshi , MIZUNO Takayuki , ARAKAWA Fumiko , OGAWA Yoshifumi , TERADA Shohei , ASAYAMA Kyouichiro

    ナノプローバは単体実デバイスの電気特性を評価するために開発された技術である。これにより不良箇所をデバイスの構成要素単位で特定し、その場所の構造的な異常(異物、加工不良、反応生成物等)をTEM観察・分析TEMにより確実に見つけ出すことが可能となった。このナノプローバとTEMの組み合わせによる解析は不良箇所の電気特性と構造的な異常とを一対一で対応付けることが出来、不良の根本原因から最終的な不良症状に至 …

    Technical report of IEICE. ICD 103(647), 13-15, 2004-01-29

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (5)

  • 11

    Development of Failure Analysis Method Using Nano-prober and THIS  [in Japanese]

    YANO Fumiko , YANAGITA Hiroshi , MIZUNO Takayuki , ARAKAWA Fumiko , OGAWA Yoshifumi , TERADA Shohei , ASAYAMA Kyouichiro

    ナノプローバは単体実デバイスの電気特性を評価するために開発された技術である。これにより不良箇所をデバイスの構成要素単位で特定し、その場所の構造的な異常(異物、加工不良、反応生成物等)をTEM観察・分析TEMにより確実に見つけ出すことが可能となった。このナノプローバとTEMの組み合わせによる解析は不良箇所の電気特性と構造的な異常とを一対一で対応付けることが出来、不良の根本原因から最終的な不良症状に至 …

    IEICE technical report. Component parts and materials 103(645), 13-15, 2004-01-29

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (5)

  • 12

    PROBER : A Probe Information System for Pedestrians  [in Japanese]

    Kikuchi Satoshi , Yagi Keisuke , Yashiro Tomoyuki

    … ,交通情報や気象情報などといった新たな価値を有する情報として提供するシステムである.このシステムを歩行者に適用する際,モバイル端末とGPSを用いて各歩行者の情報を収集し,エージェントソフトウェアにより情報の蓄積・加工・提供を行う.このように,モバイル端末とソフトウェアのみを用いることにより,情報のリアルタイム性の向上とコスト低減を可能とした歩行者版プローブ情報システム,「PROBER」を提案する. …

    情報処理学会研究報告. ITS, [高度交通システム] 2003(56), 47-54, 2003-05-23

    CiNii Fulltext PDF - Open Access  References (14) Cited by (8)

  • 13

    Bare Die Testing Technology to Realize Ultra High Density Three Dimensional LSI Stacking Module  [in Japanese]

    TANIOKA Michinobu , SHIRAI Yuji , KOJIMA Kazumi , TAKAHASHI Kenji

    3次元積層モジュールの量産化を実現するためには,積層前のLSI単体検査すなわちベアチッブ状態でのテスティングを目的とした微細ピッチプロービング技術が必須である.本技術の確立には,微細プローブ,高精度プローバとプロービングプロセスの同期した要素技術開発が必要となる.微細プローブは,マイクロブローブをベースにコンタクト対象に応じて先端材料と構造を適正化した新規プローブを開発し,基本性能検証を実施した. …

    Technical report of IEICE. ICD 102(622), 21-26, 2003-01-23

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (7)

  • 14

    A new analytical technique with four nano-probes to inspect electrical characteristics of a device on actual circuits  [in Japanese]

    YANAGITA Hiroshi , MIZUNO Takayuki , YANO Fumiko , UMEMURA Kaoru , MITSUI Yasuhiro

    故障個所を特定するために従来から用いられている手法では,故障個所を十分絞り込むことが出来ない場合がある.故障が推定されるトランジスタやコンタクト抵抗などを直接測定することができれば,詳細な故障個所が分かり,SEMやTEM等の物理解析に持ち込むことができるが,光学顕微鏡下で針当てをする従来型のプローバでサブミクロンのデバイスを測定することは難しい.そこで,報告者らは,ナノプローブ技術を応用した4探針 …

    Technical report of IEICE. ICD 102(622), 19-20, 2003-01-23

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (1)

  • 15

    Bare Die Testing Technology to Realize Ultra High Density Three Dimensional LSI Stacking Module  [in Japanese]

    TANIOKA Michinobu , SHIRAI Yuji , KOJIMA Kazumi , TAKAHASHI Kenji

    3次元積層モジュールの量産化を実現するためには,積層前のLSI単体検査すなわちベアチップ状態でのテスティングを目的とした微細ピッチプロービング技術が必須である.本技術の確立には,微細プローブ,高精度プローバとプロービングプロセスの同期した要素技術開発が必要となる.微細プローブは,マイクロプローブをベースにコンタクト対象に応じて先端材料と構造を適正化した新規プローブを開発し,基本性能検証を実施した. …

    IEICE technical report. Component parts and materials 102(620), 21-26, 2003-01-23

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (7)

  • 16

    A new analytical technique with four nano-probes to inspect electrical characteristics of a device on actual circuits  [in Japanese]

    YANAGITA Hiroshi , MIZUNO Takayuki , YANO Fumiko , UMEMURA Kaoru , MITSUI Yasuhiro

    故障個所を特定するために従来から用いられている手法では,故障個所を十分絞り込むことが出来ない場合がある.故障が推定されるトランジスタやコンタクト抵抗などを直接測定することができれば,詳細な故障個所が分かり,SEMやTEM等の物理解析に持ち込むことができるが,光学顕微鏡下で針当てをする従来型のプローバでサブミクロンのデバイスを測定することは難しい.そこで,報告者らは,ナノプローブ技術を応用した4探針 …

    IEICE technical report. Component parts and materials 102(620), 19-20, 2003-01-23

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (1)

  • 17

    PROBER, 歩行者版プローブ情報システムの提案

    菊地聡敏

    情報処理学会研究報告, 47-54, 2003

    Cited by (2)

  • 18

    PROBER-歩行者版プローブ情報システムの提案-

    菊池聡敏

    情報処理学会第65回全国大会, 2003年3月 3, 312-313, 2003

    Cited by (3)

  • 19

    Development of Electro-Optic Sampling Prober  [in Japanese]

    Yanagisawa Y. , Toriyama N. , Aoki S. , Ohta K.

    Proceedings of the IEICE General Conference 2000年.エレクトロニクス(2), 102, 2000-03-07

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  • 20

    A proposal to reduce design TAT for high speed ULSI using improved timing accuracy on timing simulator  [in Japanese]

    Kawamoto Hiroshi

    デバイステクノロジーの進歩に伴い、デバイスの動向は微細化によって単に高密度化するだけでなく、内部動作が高速化している。高速化に伴い、その設計段階で用いるタイミングシミュレーションの精度が実際の動作に一致しないために、設計期間が長期にわたっている。従来、EBテスタは単なる不良解析の一つの道具という認識が一般的であったが、このEBテスタを高速デバイスの設計段階で用いてデバイスの内部動作測定を行ない、そ …

    Technical report of IEICE. ICD 99(476), 9-16, 1999-11-26

    CiNii Fulltext PDF - Subscription  References (3)