書誌事項
- タイトル別名
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- Structural Characterization of Self-Assembled Monolayers by Surface-Enhanced Raman Spectroscopy.
- ヒョウメン ゾウキョウ ラマン ブンコウホウ ニヨル ジコ ソシキカ タンブン
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抄録
Structural characterization of self-assembled monolayers (SAMS) by means of surface-enhanced Raman spectroscopy (SERS) was reviewed. It was concluded that SERS provides important information not only about conformation and orientation of molecules in SAM, but also about interaction between SAM and other molecules.
収録刊行物
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- 高分子論文集
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高分子論文集 52 (12), 737-745, 1995
公益社団法人 高分子学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390282681499952000
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- NII論文ID
- 130004035069
- 10001691357
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- NII書誌ID
- AN00085011
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- ISSN
- 18815685
- 03862186
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- NDL書誌ID
- 3917736
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用不可