マイクロエレクトロニクス材料における劣化現象 Life of Semiconductor. Degradation Phenomena in Microelectronic Materials.

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  • マテリアルライフ

    マテリアルライフ 8(2), 66-71, 1996-04-25

    MATERIALS LIFE SOCIETY, JAPAN

参考文献:  17件中 1-17件 を表示

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    BLACK J. R.

    Proc. IEEE Int. Reliab. Phys. Symp. 233, 1978

    被引用文献1件

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    BLACK J. R.

    Proc. IEEE 57, 1587, 1969

    被引用文献3件

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    BLACK J. R.

    IEEE Trans. Electron Devices ED-16, 338, 1969

    被引用文献5件

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    BLACK J. R.

    Proc. IEEE Int. Reliab. Phys. Symp. 142, 1983

    被引用文献1件

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    DANSO K. A.

    Microelectronics and Reliability 21, 513, 1981

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    Appl. Phys. Letters 17, 281, 1970

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    IEEE Trans. Reliab. 43, 186, 1994

    被引用文献2件

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    平林他

    第56回応用物理学会 (秋季) 学術講演会予稿集, 607-611, 1995

    被引用文献1件

  • 第7回信頼性シンポジウム1a-3

    益田

    日本信頼性学会誌 16, 23, 1994

    被引用文献1件

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    二瓶公志他

    電子部品の製造における欠陥 トラブル防止対策 321, 1983

    被引用文献1件

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    OKAMOTO H.

    Proc. 2nd Int. Conf. Reliability, Maintainability and Safety 638, 1994

    被引用文献1件

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    前田

    平成5年電気学会全国大会予稿集 3, 1993

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    プリント回路学会絶縁信頼性研究部会公開研究会予稿集 1, 14, 1993

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    BRAUER J. B.

    8th Ann. Proc. Reliab. Phys. 61, 1970

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    ITOBAYASHI M.

    Proc. Int. Symp. for Testing and Failure Analysis [ISTFA] 283, 1987

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    ATTARDO M. J.

    J.Appl.Phys. 41, 2381, 1970

    DOI 被引用文献2件

  • 2,4-ジアミノ-6-ビニル-s-トリアジン化合物の銀の移行防止効果

    鎌形 一夫 , 河田 俊一 , 山田 俊昭

    電子通信学会論文誌 C 69(1), p126-130, 1986-01

    被引用文献2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002002710
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10530609
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09153594
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  J-STAGE 
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