半導体素子の信頼性 Life of Semiconductor. Reliability of Semiconductor Devices.

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収録刊行物

  • マテリアルライフ

    マテリアルライフ 8(2), 78-83, 1996-04-25

    MATERIALS LIFE SOCIETY, JAPAN

参考文献:  12件中 1-12件 を表示

  • <no title>

    越川清重

    電子部品の信頼性試験, 1985

    被引用文献3件

  • <no title>

    塩見弘

    信頼性概論, 1986

    被引用文献1件

  • <no title>

    柳井久義

    集積回路工学(1), 1988

    被引用文献1件

  • <no title>

    外山正春編

    VLSI技術, 1987

    被引用文献1件

  • <no title>

    徳山巍

    VLSI製造技術, 1989

    被引用文献5件

  • 結晶技術とその物理的問題

    津屋英樹

    結晶技術とその物理的問題第10回応用物理学会スクール, 1992

    被引用文献1件

  • <no title>

    伊藤隆司

    LSIの薄膜技術, 1986

    被引用文献1件

  • <no title>

    菅野卓雄編

    SiMOSデバイスの物理, 1989

    被引用文献1件

  • <no title>

    谷口研二

    電気学会誌 108(8), 793, 1988

    被引用文献1件

  • <no title>

    山部紀久夫

    電気学会論文誌A 110(8), 457, 1990

    被引用文献1件

  • <no title>

    後川昭雄

    応用物理 55, 225, 1986

    被引用文献2件

  • <no title>

    赤坂洋一

    超LSIプロセスデータハンドブック, 1990

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002002747
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10530609
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09153594
  • データ提供元
    CJP書誌  J-STAGE 
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