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収録刊行物

  • セラミックス

    セラミックス 33(7), 555-559, 1998-07-01

    日本セラミックス協会

参考文献:  19件中 1-19件 を表示

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    GOLDSTEIN J. H.

    Practical Scanning Electron Microscopy, 1975

    被引用文献1件

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    REIMER L.

    Scanning Electron Microscopy, 1985

    被引用文献3件

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    日本電子顕微鏡学会関東支部

    走査電子顕微鏡の基礎と応用, 1983

    被引用文献4件

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    WILLIAMS D. B.

    Transmission Electron Microscopy I-IV, 1996

    被引用文献1件

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    日本電子顕微鏡学会

    電子顕微鏡大学講義テキスト

    被引用文献1件

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    CULLITY B. W.

    X線回折要論, 1977

    被引用文献1件

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    加藤誠軌著

    X線回折分析, 1990

    被引用文献1件

  • <no title>

    日本金属学会

    X線回折による物質構造の解析法(金属学会セミナーテキスト), 1993

    被引用文献1件

  • <no title>

    高良和武

    X線回折 実験物理学講座20', 1988

    被引用文献1件

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    大西孝治

    固体表面分析I,II, 1995

    被引用文献5件

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    理学電機工業研究開発部分析技術課

    蛍光X線の手引き, 1990

    被引用文献1件

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    田中誠之

    機器分析 基礎化学選書7, 1989

    被引用文献1件

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    泉美治

    機器分析の手引き(1)-(3), 1998

    被引用文献1件

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    人戸屋修

    電子 イオンを用いた材料分析法入門, 1989

    被引用文献1件

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    EGERTON R. F.

    Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, 1996

    被引用文献41件

  • <no title>

    日本セラミックス協会

    セラミック工学ハンドブック, 1993

    被引用文献1件

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    日本セラミックス協会編集委員会講座小委員会

    セラミックスのキャラクタリゼーション技術, 1987

    被引用文献1件

  • <no title>

    日本セラミックス協会編集委員会基礎工学講座小委員会

    セラミックスの評価法, 1993

    被引用文献1件

  • <no title>

    加藤誠軌

    図解ファインセラミックスの結晶化学, 1987

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002017011
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00131516
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    0009031X
  • NDL 記事登録ID
    4498510
  • NDL 雑誌分類
    ZP9(科学技術--化学・化学工業--無機化学・無機化学工業--セラミックス・窯業)
  • NDL 請求記号
    Z17-206
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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