表面分析技術 3. 走査型プローブ顕微鏡 Surface Analytical Technology 3. Scanning Probe Microscope

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著者

    • 吹野 清隆 FUKINO Kiyotaka
    • 富士写真フィルム株式会社吉田南工場研究部 Research Dep., Yoshida-minami Factory, Fuji Photo Film Co., Ltd.

収録刊行物

  • 日本印刷学会誌  

    日本印刷学会誌 34(3), 181-188, 1997-05-31 

    日本印刷学会

参考文献:  25件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002020829
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10161648
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    09143319
  • NDL 記事登録ID
    4276047
  • NDL 雑誌分類
    ZP48(科学技術--印写工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-491
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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