表面分析技術 6. 二次イオン質量分析法(SIMS) Secondary Ion Mass Spectrometry

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  • 日本印刷学会誌

    日本印刷学会誌 34(6), 397-407, 1997-11-01

    日本印刷学会

参考文献:  42件中 1-42件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002021224
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10161648
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    09143319
  • NDL 記事登録ID
    4437362
  • NDL 雑誌分類
    ZP48(科学技術--印写工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-491
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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