SMTを用いた点接触法による表面電気伝導の測定 Measurements of Surface State Conductivity with a Point Contact Method using STM

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抄録

Electrical conductance of point contacts between a metal tip and semiconductor surfaces has been measured with scanning tunneling microscope (STM) . The conductance depends strongly on the electronic structures of semiconductor surfaces. It also changes with a distribution of steps around its contact area. These results suggest that it is due to the conductivity via surface electronic states, that is, surface state conductivity.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 37(5), 251-257, 1995-10-31 

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  11件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002024391
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    3636124
  • NDL 刊行物分類
    MC61(分子・物性)
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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