X線回析法による薄膜材料の評価 Characterization of Thin Films Using X-ray Diffraction Technique

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収録刊行物

  • 表面技術 = The Journal of the Surface Finishing Society of Japan

    表面技術 = The Journal of the Surface Finishing Society of Japan 50(4), 338-339, 1999-04-01

    表面技術協会

参考文献:  5件中 1-5件 を表示

  • <no title>

    小林勇二

    X線分析の進歩VII 49, 1951

    被引用文献1件

  • <no title>

    SAKURAI S.

    Adv. X-ray Anal. 33, 205, 1991

    被引用文献1件

  • <no title>

    SASAKI S.

    KEK Report 88-14, (February), 1989

    被引用文献1件

  • <no title>

    X線回析ハンドブック 42, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    英崇夫

    材料 48(1), 94, 1999

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002112141
  • NII書誌ID(NCID)
    AN1005202X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    09151869
  • NDL 記事登録ID
    4707830
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-291
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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