アトムプローブの最近の動向と磁性薄膜の微細組織解析への応用 Recent Progress in Atom Probe Field Ion Microscopy and Its Application to the Nanostructure Analysis of Magnetic Thin Films

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 表面科学  

    表面科学 16(2), 127-134, 1995-02-10 

参考文献:  22件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002114938
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03885321
  • データ提供元
    CJP書誌 
ページトップへ