アトムプローブの最近の動向と磁性薄膜の微細組織解析への応用

• 宝野 和博

  東北大学金属材料研究所

• 桜井 利夫

  東北大学金属材料研究所

書誌事項

タイトル別名

• Recent Progress in Atom Probe Field Ion Microscopy and Its Application to the Nanostructure Analysis of Magnetic Thin Films

収録刊行物

• 表面科学

  表面科学 16 (2), 127-134, 1995-02-10

詳細情報

• CRID: 1572261548974284288
• NII論文ID: 10002114938
• NII書誌ID: AN00334149
• ISSN: 03885321
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles