X線光電子分光法を用いた半導体のバンドギャップ内の界面準位の新しい観測方法 A New Method for Determination of Energy Distribution of Interface States in Semiconductor Band-Gaps : XPS Measurements under Biases

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著者

    • 小林 光 KOBAYASHI Hikaru
    • 大阪大学基礎工学部及び有機光工学研究センター Department of Chemistry, Faculty of Engineering Science, and Research Center for Photoenergetics of Organic Materials, Osaka University

収録刊行物

  • 表面科学  

    表面科学 16(4), 251-257, 1995-04-10 

参考文献:  33件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002115376
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03885321
  • データ提供元
    CJP書誌 
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