2次電子像によるSi(111)表面の(7×7)ドメイン形状観察 Secondary Electron Imaging of(7×7)Domains on Si(111) Surfaces

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  • 表面科学

    表面科学 16(7), 415-421, 1995-07-10

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002115826
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03885321
  • データ提供元
    CJP書誌 
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