金属系多層膜を用いた電子の減衰長の測定 Measurements of Electron Attenuation Length using Metallic Multilayers

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収録刊行物

  • 表面科学  

    表面科学 16(8), 492-496, 1995-08-10 

参考文献:  17件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002116020
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03885321
  • データ提供元
    CJP書誌 
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