X線光電子分光法用走査型X線源の球面収差とビーム形状シミュレーション Spherical Aberration and Beam Shape Simulation of Scanning X-ray Source for X-ray Photoelectron Spectroscopy

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  • 表面科学

    表面科学 16(9), 592-597, 1995-09-10

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  • <no title>

    BRIGGS D.

    Practical Surface Analysis, 1986

    被引用文献1件

  • <no title>

    DRUMMOND I. W.

    Scanning 13, 149, 1991

    被引用文献2件

  • <no title>

    SEAH M. P.

    Surf. Interface Anal. 11, 69, 1988

    被引用文献4件

  • <no title>

    BRIGGS D.

    Practial Surface Analysis 2nd Edition, 1990

    被引用文献1件

  • <no title>

    NINOMIYA K.

    Jpn. J. Appl. Phys. 30, 2889, 1991

    被引用文献2件

  • <no title>

    ADE H. W.

    Nucl. Instr and Meth. A319, 311, 1992

    被引用文献1件

  • <no title>

    LARSON P. E.

    Scanning and High Resolution X-ray Photoelectron Spectroscopy and Imaging 113, 1994

    被引用文献1件

  • <no title>

    富塚仁

    表面科学 15, 456, 1994

    被引用文献2件

  • <no title>

    SUZUKI Y.

    Jpn. J. Appl. Phys. 28, L1660, 1989

    被引用文献7件

  • <no title>

    南茂雄

    科学計測のための波形データ処理 184, 1986

    被引用文献1件

  • <no title>

    日本学術振興会第132委員会

    電子 イオンビームハンドブック 639, 1986

    被引用文献1件

  • <no title>

    TONNER B. P.

    Rev. Sci. Instrum. 63(1), 564, 1992

    DOI 被引用文献1件

  • <no title>

    ADE H.

    J. Vac. Sci. Technol. A9, 1902, 1991

    DOI 被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002116371
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03885321
  • データ提供元
    CJP書誌 
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