X線の屈折を利用した画像計測

• 鈴木 芳生

• 八木 直人

• 香村 芳樹

Bibliographic Information

Other Title

• Xセン ノ クッセツ オ リヨウ シタ ガゾウ ケイソク
• 特集 シンクロン放射光の利用
• トクシュウ シンクロン ホウシャコウ ノ リヨウ

Journal

• 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編

  非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 48 (6), 346-351, 1999-06

  [東京] : 日本非破壊検査協会

Details

• CRID: 1520572360114444288
• NII Article ID: 10002194067
• NII Book ID: AN00208370
• ISSN: 03675866
• NDL BIB ID: 4753516
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4753516
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles