GaAsの分子線成長における成長中断時の挙動の走査電子顕微鏡その場観察 Kinetics on MBE-grown GaAs Surface during Annealing as Revealed by in-situ SEM Observation

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  • 表面科学

    表面科学 18(7), 429-434, 1997-07

    日本表面科学会

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002264743
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    4246960
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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