電子分光法による酸化シリコン測定時のダメージについて
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- デンシ ブンコウホウ ニヨル サンカ シリコン ソクテイジ ノ ダメージ ニ
- 第16回表面科学講演大会論文特集2
- ダイ 16カイ ヒョウメン カガク コウエン タイカイ ロンブン トクシュウ
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Abstract
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会
Journal
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- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
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表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 18 (8), 473-477, 1997-08
東京 : 日本表面科学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1522543654620491392
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- NII Article ID
- 10002264860
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- NII Book ID
- AN00334149
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- ISSN
- 03885321
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- NDL BIB ID
- 4266100
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles