自己組織化によるSiナノ構造のウェ-ハスケ-ル制御 Wafer-Scale Control of Nanostructures on Si by Using Self-Organization Processes

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  • 表面科学

    表面科学 19(9), 557-564, 1998-09

    日本表面科学会

参考文献:  28件中 1-28件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002265970
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    4557980
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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