GaAsの分子線成長における三次元成長の開始過程の走査電子顕微鏡その場観察 Three Dimensional Growth in GaAs MBE Studied by in-situ Scanning Electron Microscopy

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 表面科学  

    表面科学 19(11), 747-751, 1998-11 

    日本表面科学会

参考文献:  8件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002266487
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    4600403
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
ページトップへ