GaAsの分子線成長における三次元成長の開始過程の走査電子顕微鏡その場観察 Three Dimensional Growth in GaAs MBE Studied by in-situ Scanning Electron Microscopy

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  • 表面科学

    表面科学 19(11), 747-751, 1998-11

    日本表面科学会

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    DOI 被引用文献9件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002266487
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    4600403
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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