半導体の界面準位の分光学的な観測方法と準位密度の低減 Spectroscopic Observation of Semiconductor Interface States and the Decrease in the Interface State Density

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著者

    • 小林 光 KOBAYASHI Hikaru
    • 科学技術事業団さきがけ研究及び大阪大学産業科学研究所 PRESTO, Japan Science and Technology Corporation, and the Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University

収録刊行物

  • 表面科学  

    表面科学 20(4), 279-287, 1999-04-10 

    日本表面科学会

参考文献:  25件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002267671
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    4707591
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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