原子操作と識別技術 Techniques for Atomic Manipulation and Identification

この論文にアクセスする

この論文をさがす

著者

    • 徳本 洋志 TOKUMOTO Hiroshi
    • アトムテクノロジー研究体 産業技術融合領域研究所 Joint Research Center for Atom Technology (JRCAT), National Institute for Advabced Interdisciplinary Research (NAIR)
    • 清水 哲夫 SHIMIZU Tetsuo
    • アトムテクノロジー研究体 産業技術融合領域研究所 Joint Research Center for Atom Technology (JRCAT), National Institute for Advabced Interdisciplinary Research (NAIR)

抄録

Nowadays, we can fairly easily observe and manipulate atoms and molecules on solid surfaces with the help of scanning probe microscopy (SPM). However, we cannot yet identify the chemical species of atoms and molecules we observe or manipulate just by using the present SPM technique. Towards establishment of such a technique based on the SPM, there are many researches going on throughout the world. Here we shall overview these researches very briefly, by emphasizing our own research on "Atomic manipulation and identification techniques by combining SPM ability of atomic manipulation with atom probe (AP) ability of atomic mass analysis";.

収録刊行物

  • 表面科学  

    表面科学 20(5), 313-320, 1999-05-10 

    The Surface Science Society of Japan

参考文献:  31件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002267774
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    4720345
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
ページトップへ