AFMの現状と展開 Status and Development of Atomic Force Microscopy

この論文をさがす

著者

    • 森田 清三 MORITA Seizo
    • 大阪大学工学研究科電子工学専攻 Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Osaka University
    • 菅原 康弘 SUGAWARA Yasuhiro
    • 大阪大学工学研究科電子工学専攻 Department of Electronic Engineering, Graduate School of Engineering, Osaka University

収録刊行物

  • 表面科学

    表面科学 20(5), 352-357, 1999-05-10

    日本表面科学会

参考文献:  10件中 1-10件 を表示

  • 原子間力顕微鏡のすべて

    森田清三

    K BOOKS SERIES 108, 1995

    被引用文献3件

  • <no title>

    菅原康弘

    触媒 39, 613, 1997

    被引用文献1件

  • <no title>

    SUGAWARA Y.

    Science 270, 1646, 1995

    被引用文献32件

  • <no title>

    SUGAWARA Y.

    Appl. Surf. Sci. 140, 371, 1999

    被引用文献10件

  • <no title>

    森田清三

    応用物理 67, 1402, 1998

    被引用文献2件

  • <no title>

    UCHIHASHI T.

    Phys. Rev. B 56, 9834, 1997

    被引用文献11件

  • <no title>

    UEYAMA H.

    Appl. Phys. A 66, S 295, 1998

    被引用文献3件

  • <no title>

    MINOBE T.

    Appl. Surf. Sci. 140, 298, 1999

    被引用文献13件

  • <no title>

    菅原康弘

    真空 41, 906, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    ORISAKA S.

    Appl.Surf.Sci. 140, 243, 1999

    DOI 被引用文献9件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002267957
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    4720362
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
ページトップへ