6. イメージングプレート平面波X線トポグラフィによるSi単結晶の格子歪み解析 6. Analysis of Lattice Distortion in As-grown Silicon Single Crystals by Plane-wave X-ray Topography Using Imaging Plates

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著者

収録刊行物

  • Radioisotopes  

    Radioisotopes 47(8), 648-655, 1998-08 

    日本アイソト-プ協会

参考文献:  23件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002389038
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00351589
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00338303
  • NDL 記事登録ID
    4545012
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学) // ZN36(科学技術--原子力工学・工業) // ZP2(科学技術--化学・化学工業--物理化学) // ZS45(科学技術--医学--放射線医学)
  • NDL 請求記号
    Z15-20
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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