イオンビーム利用の基礎と現状 IV. イオンビームアナリシス 8. 同軸型直衝突イオン散乱スペクトロメトリ Fundamentals and Present Aspects of Ion Beam Technology. IV. Ion Beam Analysis. 8. Coaxial impact-collision ion scattering spectrometry.

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著者

    • 青野 正和 AONO Masakazu
    • 理化学研究所表面界面工学研究室 Surface and Interface Laboratory, The Institute of Physical and Chemical Research(RIKEN)

収録刊行物

  • Radioisotopes

    Radioisotopes 44(6), 412-420, 1995-06-15

    日本アイソト-プ協会

参考文献:  44件中 1-44件 を表示

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    Katayama Mitsuhiro , KING B. V. , NOMURA Eiichi , AONO Masakazu

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    CiNii 外部リンク 機関リポジトリ DOI 被引用文献4件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002390982
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00351589
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    00338303
  • NDL 記事登録ID
    3609804
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学) // ZN36(科学技術--原子力工学・工業) // ZP2(科学技術--化学・化学工業--物理化学) // ZS45(科学技術--医学--放射線医学)
  • NDL 請求記号
    Z15-20
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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