低温金属の全半球ふく射率の高精度測定法 Improved Technique for Measuring Total Hemispherical Emissivities of Metals at Low Temperatures

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  • 熱物性 : Japan journal of thermophysical properties  

    熱物性 : Japan journal of thermophysical properties 9(1), 9-16, 1995-01-31 

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被引用文献:  2件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002394645
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10064743
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    0913946X
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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