Depth Profiling in Surfaces Using Total Reflection X-Ray Fluorescence
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- SCHWENKE Heinrich
- GKSS-Forschungszentrum
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- KNOTH Joachim
- GKSS-Forschungszentrum
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収録刊行物
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- Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry
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Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry 11 (3), 533-537, 1995-07-10
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1571135649065426176
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- NII論文ID
- 10002405855
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- NII書誌ID
- AA10500785
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- ISSN
- 09106340
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- 本文言語コード
- en
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- データソース種別
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- CiNii Articles