Study of Epitaxy by RHEED(Reflection High Energy Electron Diffraction)-TRAXS(Total Reflection Angle X-Ray Spectroscopy)

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著者

    • INO Shozo
    • Department of Physics, Graduate School of Science, University of Tokyo

収録刊行物

  • Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry  

    Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry 11(3), 539-543, 1995-07-10 

参考文献:  18件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002405860
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10500785
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09106340
  • データ提供元
    CJP書誌 
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