Direct ICP-AES Determination of Trace Impurities in Silicon Dioxide Using Fluorinating Electrothermal Vaporization with Slurry Sampling

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  • Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry

    Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry 13(4), 595-599, 1997-08-10

    Japan Society for Analytical Chemistry

参考文献:  14件中 1-14件 を表示

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    DOI 被引用文献5件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002412232
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10500785
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09106340
  • NDL 記事登録ID
    4277871
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z54-F482
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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