Accuracy of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry near the Detection Limit

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  • Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry

    Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry 14(2), 275-280, 1998-04-10

    Japan Society for Analytical Chemistry

参考文献:  12件中 1-12件 を表示

  • <no title>

    HOCKETT R. S.

    Adv. X-ray Anal. 37, 565, 1994

    被引用文献4件

  • <no title>

    NISHIHAGI K.

    Proceedings of the First International Symposium on Cleaning Technology in Semiconductor Device Manufacturing, Hollywood, ECS Pr 243, 1990

    被引用文献3件

  • <no title>

    UC Standardization Committee

    Ultra Clean Technology 8, 44, 1996

    被引用文献2件

  • <no title>

    MORI Y.

    Anal. Sci. 11, 499, 1995

    被引用文献7件

  • <no title>

    SHIMAZAKI A.

    Extended Abstracts of the 16th(1984 International)Conference on Solid State Devices and Materials, Kobe 281, 1984

    被引用文献1件

  • <no title>

    FABRY L.

    Fresenius'J. Anal. Chem. 349, 260, 1994

    被引用文献5件

  • <no title>

    YAKUSHIJI K.

    Jpn. J. Appl. Phys. 32, 1191, 1993

    被引用文献3件

  • <no title>

    KOZONO S.

    Anal. Sci. 10, 477, 1994

    被引用文献3件

  • <no title>

    YAKUSHIJI K.

    Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2872, 1992

    被引用文献4件

  • <no title>

    KONDO H.

    Extended Abstracts of the 39th Spring Meeting of the Japan Society of Applied Physics and Related Societies, Narashino 731, 1992

    被引用文献1件

  • <no title>

    YAKUSHIJI K.

    Anal. Sci. 11, 505, 1995

    被引用文献2件

  • <no title>

    FUNABASHI M.

    Spectrochim. Acta B52, 887, 1997

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002414984
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10500785
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09106340
  • NDL 記事登録ID
    4450407
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z54-F482
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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