TXRF Analysis of Solution Samples Using Polyester Film as a Disposable Sample-Carrier Cover

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抄録

The performance of polyester film was examined as a disposable cover of the sample-carrier (silicon wafer). The cover offers convenience and economy for the total reflection X-ray fluorescence (TXRF) analysis of solution samples. Moreover, the measurement of Al Kα (1.487 keV) and P Kα (2.013 keV) peaks is possible because of the reduction of Si Kα X-rays (1.740 keV) from the sample-carrier. Not only the trace elements (Cr, Mn, Co, Ni and Cu) but also the low sensitivity elements (Al and P) in JSS iron and steel standard samples were successfully analyzed.

収録刊行物

  • Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry  

    Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry 14(5), 909-912, 1998-10-10 

    社団法人 日本分析化学会

参考文献:  10件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002417200
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10500785
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09106340
  • NDL 記事登録ID
    4576986
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z54-F482
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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