Probing Depth Study of Conversion Electron/He Ion Yield XAFS Spectroscopy on Strontium Titanate Thin Films

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  • Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry

    Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry 15(3), 255-258, 1999-03

    Japan Society for Analytical Chemistry

参考文献:  9件中 1-9件 を表示

  • <no title>

    ABE K.

    Jpn. J. Appl. Phys. 31, 2985, 1992

    被引用文献17件

  • <no title>

    ERBIL A.

    Phys. Rev. B 37, 2450, 1988

    被引用文献6件

  • <no title>

    SCHROEDER S. L. M.

    Solid State Comm. 98, 405, 1996

    被引用文献1件

  • <no title>

    NOMURA M.

    KEK Report, 91-1, 1991

    被引用文献1件

  • <no title>

    NOMURA M.

    KEK Report, 95-15, 1996

    被引用文献2件

  • <no title>

    JOY D. C.

    Scanning 11, 176, 1989

    被引用文献11件

  • <no title>

    HERRMANN R.

    Scanning 6, 20, 1984

    被引用文献1件

  • <no title>

    SCHROEDER S. L. M.

    Surf. Sci. 324, 1995

    被引用文献2件

  • <no title>

    TOMIO T.

    J. Appl. Phys. 76, 5886, 1994

    DOI 被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002419097
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10500785
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09106340
  • NDL 記事登録ID
    4810265
  • NDL 雑誌分類
    ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
  • NDL 請求記号
    Z54-F482
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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