赤外線による応用計測技術の進歩と規格認定に関する動向

• 岡本 芳三

• 鴨井 新生

• 石井 敏満

Bibliographic Information

Other Title

• セキガイセンニヨルオウヨウ ケイソク ギジュツ ノ シンポ ト キカク ニンテ

Abstract

資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト

Journal

• 日本赤外線学会誌 = Journal of the Japan Society of Infrared Science and Technolog / 日本赤外線学会 編

  日本赤外線学会誌 = Journal of the Japan Society of Infrared Science and Technolog / 日本赤外線学会 編 8 (1), 2-12, 1998-06

  吹田 : 日本赤外線学会

Details

• CRID: 1520009407824356352
• NII Article ID: 10002436699
• NII Article ID: 10004471147
• NII Book ID: AN10433588
• ISSN: 09167900
• NDL BIB ID: 4556343
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/4556343
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4556343
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles