Nondestructive Depth Profiling by Glancing-Incidence and-Takeoff X-ray Fluorescence

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著者

    • TSUJI Kouichi
    • Department of Analytical Science, Institute for Materials Research, Tohoku University
    • SATO S.
    • Department of Analytical Science, Institute for Materials Research, Tohoku University

収録刊行物

  • Materials transactions, JIM

    Materials transactions, JIM 37(3), 295-298, 1996-03

参考文献:  13件中 1-13件 を表示

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    DOI 被引用文献36件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002447316
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10699969
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09161821
  • データ提供元
    CJP書誌 
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