Molecular Dynamics Simulation of Electromigration in Nano-sized Metal Lines

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • Materials transactions, JIM

    Materials transactions, JIM 37(3), 454-457, 1996-03

参考文献:  12件中 1-12件 を表示

  • <no title>

    BLECH I. A.

    J. Appl. Phys. 40, 485, 1969

    被引用文献3件

  • <no title>

    ROSS C. A.

    J. Electro. Mater. 19, 911, 1990

    被引用文献1件

  • <no title>

    BLACK J. R.

    6th Annual Proc. on Reliability Physics 148, 1967

    被引用文献1件

  • <no title>

    SCHOEN J. M.

    J. Appl. phys. 51, 513, 1980

    被引用文献1件

  • <no title>

    NIKAWA K.

    19th Annual Proc. on Reliability Physics 175, 1981

    被引用文献1件

  • <no title>

    PATRINOS A. J.

    J. Appl. phys. 75, 7292, 1994

    被引用文献1件

  • <no title>

    TRATTLE J. T.

    J. Appl. phys. 75, 7799, 1994

    被引用文献1件

  • <no title>

    SHINGUBARA S.

    Extended Abstracts of SSDM 186, 1993

    被引用文献1件

  • <no title>

    ANDERSON H. C.

    J. Chem. Phys. 72, 2384, 1984

    被引用文献1件

  • <no title>

    BLECH I. A.

    J. Appl. Phys. 47, 1203, 1976

    被引用文献10件

  • <no title>

    ATTARDO M. J.

    J.Appl.Phys. 42, 4343, 1971

    DOI 被引用文献2件

  • <no title>

    SMY T. J.

    J. Appl. phys. 73, 2821, 1993

    DOI 被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002447826
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10699969
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09161821
  • データ提供元
    CJP書誌 
ページトップへ