ケイ素鉄単結晶(001)試料の2次電子スピン計測 Spin-polarization Measurement of the Secondary Electrons Emitted from Silicon Steel Single Crystal (001) Surface

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抄録

A spin-polarized scanning electron microscope (SP-SEM) which operates in reflection high energy electron diffraction (RHEED) mode of the primary electron beam has been developed. This apparatus opens a way to relate the magnetic domain structures with the surface crystal structure directly. This report describes the observation of SP-SEM images with corresponding RHEED patterns of a silicon steel single crystal (001) surface.

収録刊行物

  • 真空  

    真空 42(3), 357-360, 1999-03 

    The Vacuum Society of Japan

参考文献:  8件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002476590
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00119871
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    05598516
  • NDL 記事登録ID
    4716346
  • NDL 雑誌分類
    ZN15(科学技術--機械工学・工業--流体機械)
  • NDL 請求記号
    Z16-474
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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