基準振動による炭化ケイ素膜の構造解析 SiC Film Structure Determined by Normal Vibration Calculations

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収録刊行物

  • 真空

    真空 42(3), 454, 1999-03

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    ASHBY M. F.

    材料工学入門 36, 1985

    被引用文献1件

  • <no title>

    佐久間健人

    セラミックス材料学 749, 1993

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002476811
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00119871
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    05598516
  • データ提供元
    CJP書誌 
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