距離計測システムにおける, 大深度測定化と高分解能化の両立 In Distance Measurement System, Realization of Large Distance Measurement and High Resolution

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著者

    • 伊藤 正弥 ITO Masami
    • 松下電器産業(株)デバイスエンジニアリング開発センター Matsushita Electric Industrial CO., LTD., Device Engineering Development Center
    • 砂川 義隆 SUNAGAWA Yoshitaka
    • 松下電器産業(株)デバイスエンジニアリング開発センター Matsushita Electric Industrial CO., LTD., Device Engineering Development Center
    • 西井 完治 [他] NISHII Kanji
    • 松下電器産業(株)デバイスエンジニアリング開発センター Matsushita Electric Industrial CO., LTD., Device Engineering Development Center
    • 濱野 誠司 HAMANO Seiji
    • 松下電器産業(株)生産技術研究所 Matsushita Electric Industrial CO., LTD., Production Engineering Laboratory
    • 野村 剛 NOMURA Tuyoshi
    • 松下電器産業(株)生産技術研究所 Matsushita Electric Industrial CO., LTD., Production Engineering Laboratory

収録刊行物

  • 計測自動制御学会論文集  

    計測自動制御学会論文集 34(8), 884-889, 1998-08-31 

    計測自動制御学会

参考文献:  7件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002478832
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00072392
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    04534654
  • NDL 記事登録ID
    4549797
  • NDL 雑誌分類
    ZM11(科学技術--科学技術一般--制御工学)
  • NDL 請求記号
    Z14-482
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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