What can we learn about dications using threshold photoelectron probes?

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  • 放射光

    放射光 12(4), 286-295, 1999-09-10

    日本放射光学会

参考文献:  37件中 1-37件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002497850
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10075706
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09149287
  • NDL 記事登録ID
    4850033
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-561
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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