実装技術の変革と検査技術の動向 Packaging Technology Innovations and Inspection Technology Trends

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著者

    • 安藤 護俊 ANDO Moritoshi
    • 株式会社富士通研究所ぺリフェラルシステム研究所 Peripheral Systems Laboratories, Fujitsu Laboratories

収録刊行物

  • 回路実装学会誌  

    回路実装学会誌 13(1), 15-17, 1998-01-20 

    プリント回路学会

参考文献:  9件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002523074
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10564349
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    13410571
  • NDL 記事登録ID
    4380000
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-1820
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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