電子部品はんだ接続部の経年劣化 Long-Term Deterioration of Solder Interconnections in Electronics

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著者

    • 原田 正英 HARADA Masahide
    • 株式会社日立製作所生産技術研究所計算機実装センタ Production Engineering Research Laboratory, Hitachi, Ltd.
    • 曽我 太佐男 SOGA Tasao
    • 株式会社日立製作所生産技術研究所計算機実装センタ Production Engineering Research Laboratory, Hitachi, Ltd.
    • 佐藤 了平 SATOH Ryoohei
    • 株式会社日立製作所生産技術研究所計算機実装センタ Production Engineering Research Laboratory, Hitachi, Ltd.

収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 36(4), 288-292, 1997-04

    日本金属学会

参考文献:  7件中 1-7件 を表示

  • <no title>

    竹本正

    高信頼度マイクロソルダリング技術 308, 1990

    被引用文献1件

  • <no title>

    NORRIS K. C.

    IBM J. Res. Develop. 13, 266, 1969

    被引用文献1件

  • <no title>

    ENGELMAIER W.

    IEEE Trans. on CHMT 6, 232, 1983

    被引用文献1件

  • <no title>

    SOLOMON H. D.

    IEEE Trans. on CHMT 9, 423, 1986

    被引用文献1件

  • <no title>

    SATOH R.

    IEEE Trans. on CHMT 14, 224, 1991

    被引用文献1件

  • <no title>

    HARADA M.

    IEEE Trans. on CHMT 13, 736, 1990

    被引用文献1件

  • <no title>

    河合通文

    Proceedings of 2nd Symposium on "Microjoining and Assembly Technology in Electronics" 113, 1996

    被引用文献1件

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002541525
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    13402625
  • NDL 記事登録ID
    4194394
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-313
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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