分光エリプソメトリーによる表面薄膜解析 Analysis of Thin Surface Films by Spectroscopic Ellipsometry

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収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報  

    まてりあ : 日本金属学会会報 36(4), 337-343, 1997-04 

    日本金属学会

参考文献:  34件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002541682
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    13402625
  • NDL 記事登録ID
    4194374
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-313
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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