液体表面・液/液界面構造解析用斜入射X線散乱測定装置の開発

• 佐藤 成男

• 斎藤 正敏

• 松原 英一郎

Bibliographic Information

Other Title

• エキタイ ヒョウメン エキ エキ カイメン コウゾウ カイセキヨウ ナナメ ニュ

Journal

• まてりあ = Materia Japan

  まてりあ = Materia Japan 36 (5), 505-507, 1997-05

  仙台 : 日本金属学会 ; 1994-

Details

• CRID: 1520853835288570624
• NII Article ID: 10002542077
• NII Book ID: AN10433227
• ISSN: 13402625
• NDL BIB ID: 4217080
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4217080
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles