液体表面・液/液界面構造解析用斜入射X線散乱測定装置の開発

• 佐藤 成男

• 斎藤 正敏

• 松原 英一郎

書誌事項

タイトル別名

• エキタイ ヒョウメン エキ エキ カイメン コウゾウ カイセキヨウ ナナメ ニュ

収録刊行物

• まてりあ = Materia Japan

  まてりあ = Materia Japan 36 (5), 505-507, 1997-05

  仙台 : 日本金属学会 ; 1994-

詳細情報

• CRID: 1520853835288570624
• NII論文ID: 10002542077
• NII書誌ID: AN10433227
• ISSN: 13402625
• NDL書誌ID: 4217080
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4217080
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles