FIB法およびTEM観察の併用による金属/セラミックス等複合材料の薄片化およびナノレベル観察の技術

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  • まてりあ : 日本金属学会会報  

    まてりあ : 日本金属学会会報 36(8), 759-760, 1997-08 

被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002542761
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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