I. セラミックス強度材料 電子エネルギーフィルタリングによるβ-Si_3N_4の結晶粒界の元素マッピング Element Mapping Around Grain Boundaries in Ca-doped β-Si_3N_4 by Electron Spectroscopic Imaging

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収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 37(12), 981, 1998-12-20

    公益社団法人 日本金属学会

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

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    MAYER J.

    J. Electron, Microsc 47, 283, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANAKA I.

    J. Am. Cer. Soc. 77, 911, 1993

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002546663
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌  J-STAGE 
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