III. 半導体, セラミックスの欠陥構造 GaAs中のZ型フォールテッドダイポールの格子歪の定量評価 Quantitative Analysis of Lattice Strain of Z-Type Faulted Dipole in GaAs

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収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報  

    まてりあ : 日本金属学会会報 37(12), 987, 1998-12-20 

参考文献:  3件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10002546680
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌 
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